特許

J-GLOBAL ID：200903030779716556

ハンダ付け検査方法およびハンダ付け検査装置

発明者： 土田 昭夫
出願人/特許権者： 小松技研株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-315054
公開番号（公開出願番号）：特開平5-180779
出願日： 1991年11月28日
公開日（公表日）： 1993年07月23日
要約：

【要約】【目的】 基板面から傍出する部分と没入する部分とを影部として認識することで、より高精度なブリッジ検索と、同一工程でのホール検査をおこなう。【構成】 検査すべき基板のハンダ部分を予め画像にて認識した後、検査すべき基板に所定方向から光を照射して、一のハンダ部分とこれと異なる他のハンダ部分との間隙にて、当初認識した画像に基づいて影部を検索することによりブリッジ検査おこない、また、検査すべき基板に複数方向から光を照射して、当初認識した画像に基づいて各ハンダ部分にて影部を検索することによりホール検査をおこなう。

請求項（抜粋）：

検査すべき基板のハンダ部分、もしくは検査すべき基板と同一パターンを有する基板のハンダを施すべき部分を画像にて認識した後、前記検査すべき基板に所定方向から光を照射して、一のハンダ部分と当該一のハンダ部分と異なる他のハンダ部分との間隙にて、前記画像に基づいて影部を検索することによりブリッジ検査をおこなうことを特徴とするハンダ付け検査方法。

IPC (5件)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  G01N 21/84 ,  G06F 15/62 405 ,  H05K 3/34

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭61-290311
  
• 特開昭57-211531
  
• 特開平2-151706