特許
J-GLOBAL ID：200903030794410030
分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-306824
公開番号（公開出願番号）：特開平11-144675
出願日： 1997年11月10日
公開日（公表日）： 1999年05月28日
要約：
【要約】【課題】 イオントラップ型質量分析を有する質量分析装置において、質量数が広い範囲にある測定対象イオンを高感度に検出することが可能な分析装置を提案する。【解決手段】 一つの分析装置内に、測定質量数範囲が異なるイオントラップ質量分析計を複数個配置させる。イオンの質量数に従い、蓄積するのに適したイオントラップ質量分析計を選択し、検出する。【効果】 本発明によれば、単一の分析装置で質量数が広い範囲にあるイオンを、それぞれ十分に多数蓄積することができ、高感度な測定を行うことが可能になる。
請求項（抜粋）：
試料を大気圧下でイオン化するためのイオン源と、該イオン源において生成したイオンを後段に導くためのイオンレンズと、導かれたイオンを質量対電荷比によって分離・分析するための質量分析部と、分離・分析したイオンを検出するための検出器とを有する分析装置において、質量分析部に、お椀状の対向する一対のエンドキャップ電極とド-ナツ状のリング電極とから構成されるイオントラップ質量分析計を少なくとも2組配置し、且つ当該イオントラップ質量分析計の測定質量数範囲が個々に異なることを特徴とする分析装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
H01J 49/42
, G01N 27/62 X
, G01N 27/62 L
