特許
J-GLOBAL ID：200903030794860515
薄膜密着強度評価方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
萼 経夫 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-141134
公開番号（公開出願番号）：特開平8-313428
出願日： 1995年05月16日
公開日（公表日）： 1996年11月29日
要約：
【要約】【目的】 薄膜密着強度の評価方法を提供する。【構成】 密着強度を評価すべき薄膜(メッキ層10)が表面上に形成された製品(ワーク9)の裏面と、球面状突起を表面に備えた治具(突き上げピン14,15)の表面とを圧着させることにより、製品を裏面側より治具の球面状突起で突き上げて、製品表面を球面状に突出させ、治具の球面状突起部分の突出し量と薄膜の剥離度合との関係を求め、前記関係から薄膜の製品表面に対する密着強度を評価する。【効果】 製品をそのまま使用して薄膜の密着強度を簡便迅速に評価することができ、特に工程管理に有用である。
請求項（抜粋）：
密着強度を評価すべき薄膜が表面上に形成された製品の裏面と、球面状突起を表面に備えた治具の表面とを圧着させることにより、製品を裏面側より治具の球面状突起で突き上げて、製品表面を球面状に突出させ、治具の球面状突起部分の突出し量と薄膜の剥離度合との関係を求め、前記関係から薄膜の製品表面に対する密着強度を評価することを特徴とする薄膜密着強度評価方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 19/04 B
, G01N 33/20 Q
