プリント回路基板外観検査方法、プリント回路基板外観検査プログラム及びプリント回路基板外観検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：伊東忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-223927
公開番号（公開出願番号）：特開2006-049348
出願日： 2004年07月30日
公開日（公表日）： 2006年02月16日
要約：

【課題】プリント回路基板上に実装された電子部品の外観検査において、シルクスクリーン印刷部による悪影響を除去可能な構成を提供する。【解決手段】該当する電子部品100の周囲にシルク検査ウインドウを設定する。次に予め登録されているシルクスクリーン印刷部210の色/輝度のデータに基づき、シルク検査ウインドウ内の画像データを二値化する。プリント回路基板上の部品100の周囲のシルクスクリーン印刷部210を検出し、検出されたシルクスクリーン印刷部210と重複しないように所定の検査領域W1を画定する。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

プリント回路基板に実装された部品を含む当該基板の画像に所定の検査領域を画定する段階と、該画定された検査領域の画像データを分析することにより当該部品に関する外観検査を行なう段階とよりなり、前記所定の検査領域を画定する段階は、プリント回路基板上の前記部品の周囲のプリント基板模様部を検出する段階と、検出されたプリント基板模様部と重複しないように所定の検査領域を画定する段階とよりなるプリント回路基板外観検査方法。

IPC (4件)：

H05K 13/08 , G01N 21/956 , G06T 1/00 , H05K 3/34

FI (4件)：

H05K13/08 U , G01N21/956 B , G06T1/00 305B , H05K3/34 512B

Fターム (28件)：

2G051AA61 , 2G051AA65 , 2G051AB14 , 2G051AC04 , 2G051CA04 , 2G051CB01 , 2G051EA11 , 2G051EA12 , 2G051ED01 , 2G051ED04 , 5B057AA03 , 5B057BA02 , 5B057DA01 , 5B057DA08 , 5B057DB02 , 5B057DB06 , 5B057DB09 , 5B057DC09 , 5B057DC22 , 5B057DC25 , 5E319AA03 , 5E319AB03 , 5E319AC01 , 5E319AC20 , 5E319BB05 , 5E319CC33 , 5E319CD53 , 5E319GG20

引用特許：

出願人引用 (3件)

実装部品検査方法および装置ならびに検査プログラム
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-301728 出願人：松下電器産業株式会社
特開昭63-229577号公報
ワーク境界の検出方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-150028 出願人：キヤノン株式会社

審査官引用 (5件)

特開昭59-208406
特開昭63-135849
特開昭60-256004

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