特許
J-GLOBAL ID：200903030828801122
プラントにおける静特性監視方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 一雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-190108
公開番号（公開出願番号）：特開平5-034246
出願日： 1991年07月30日
公開日（公表日）： 1993年02月09日
要約：
【要約】【目的】 プラントの静特性を表現した非線型要素を含む大規模モデルのパラメータを観測量に適合するように調整し、パラメータの値の時間的変化を監視することにより、プラントおよびプラント内各種機器の静特性を監視する方法および装置を提供すること。【構成】 プラントから観測された入力信号に対してプラントの静特性を表現するようにプラントの出力を計算する数式モデルと、その数式モデルの出力の変動分に対するその数式モデルのパラメータの変動分をその要素として持つマトリックスと、プラントの出力信号とを入力とし、数式モデルのパラメータを出力とする神経回路網を用いて、数式モデルの静特性をプラントから時々刻々観測された入出力信号に適合するように変化させながら、時間の経過に伴う数式モデルのパラメータの値の変化に基づきプラントおよびプラント内機器の少なくとも一方の静特性を監視する。
請求項（抜粋）：
プラントから観測された入力信号に対してプラントの静特性を表現するようにプラントの出力を計算する数式モデルと、その数式モデルの出力の変動分に対するその数式モデルのパラメータの変動分をその要素として持つマトリックスと、プラントの出力信号とを入力とし、前記数式モデルのパラメータを出力とする神経回路網を用いて、前記数式モデルの静特性をプラントから時々刻々観測された入出力信号に適合するように変化させながら、時間の経過に伴う前記数式モデルのパラメータの値の変化に基づきプラントおよびプラント内機器の少なくとも一方の静特性を監視する、プラントにおける静特性監視方法。
IPC (3件)：
G01M 19/00
, G06F 15/18
, G06F 15/31
