特許

J-GLOBAL ID：200903030962130285

走査型光学顕微鏡の光電信号処理回路

発明者： 北川 久雄
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-304671
公開番号（公開出願番号）：特開平5-142476
出願日： 1991年11月20日
公開日（公表日）： 1993年06月11日
要約：

【要約】【目的】 非直線性歪みの発生を回避すると同時にフォトンパルス信号処理をより正確に行える走査型光学顕微鏡の光電信号処理回路を提供する。【構成】 光電子増倍管を用いた走査型光学顕微鏡の光電信号処理回路において、光電子増倍管1からの信号出力平均を検出し、検出結果に応じて光電子増倍管1へ印加する高圧電圧を低下させる第1の電圧比較器6と、光電子増倍管1からのフォトンパルス電圧を検出し、検出結果に応じて光電子増倍管1へ印加する高圧電圧を上限クリップする第2の電圧比較器7とを具備する。

請求項（抜粋）：

光電子増倍管を用いた走査型光学顕微鏡の光電信号処理回路において、光電子増倍管からの信号出力平均を検出し、検出結果に応じて光電子増倍管へ印加する高圧電圧を制御する第1の電圧検出手段と、光電子増倍管からのフォトンパルス電圧を検出し、検出結果に応じて光電子増倍管へ印加する高圧電圧を上限クリップする第2の電圧検出手段とを具備したことを特徴とする走査型光学顕微鏡の光電信号処理回路。