半田高さ計測装置およびその方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小笠原史朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-017367
公開番号（公開出願番号）：特開2003-214830
出願日： 2002年01月25日
公開日（公表日）： 2003年07月30日
要約：

【要約】【課題】複数の元素を有する実装部品によって構成される実装基板において、目視確認できない実装部品の接合部の半田高さを、容易に高精度に計測する半田高さ計測装置およびその方法を提供する。【解決手段】画像処理装置5は、X線が被計測物を透過した透過画像に対して、球形半田2cを透過した領域abcを含む四辺形の処理対象エリアを設定し、切り出し画像を作成する(ステップS12)。そして、画像処理装置5は、領域abc周辺の平均画像輝度Dmを算出し(ステップS16)、計測ラインLおよび計測ポジションL0〜Lnを設定した(ステップS17)後、計測ポジションL0〜Ln毎の画像輝度および半田の減衰係数を用いて、高さHhxを算出する(ステップS19)。次に、画像処理装置5は、高さHh0〜Hhnの中から、最大値を検出して球形半田2cの最大高さHhmaxとする(ステップS22)。

請求項（抜粋）：

被計測物に形成された半田の高さを計測する半田高さ計測装置であって、被計測物にX線を照射する第1のX線発生部と、前記第1のX線発生部から照射され被計測物を透過したX線を検出し、被計測物の第1の透過画像を作成するX線検出部と、前記第1の透過画像に対して画像処理を行うことによって、被計測物に形成された半田の高さを算出する画像処理部とを備え、前記画像処理部は、前記第1の透過画像に基づいて、前記半田の領域を透過した画像に対する半田透過画像輝度および前記半田の周辺領域を透過した画像に対する周辺画像輝度を検出する画像輝度検出部と、前記周辺画像輝度に対する前記半田透過輝度の割合から前記半田のみを前記X線が透過することによって生成される画像の輝度を算出し、その画像の輝度および前記半田が単位高さ当たりに減衰によって除去するX線の割合を示す減衰係数を用いて、前記半田に対する半田高さを算出する半田高さ算出部とを含む、半田高さ計測装置。

IPC (3件)：

G01B 15/00 , G06T 1/00 305 , H05K 3/34 512

FI (3件)：

G01B 15/00 A , G06T 1/00 305 A , H05K 3/34 512 B

Fターム (31件)：

2F067AA12 , 2F067AA23 , 2F067CC14 , 2F067DD03 , 2F067DD05 , 2F067GG00 , 2F067HH04 , 2F067JJ03 , 2F067KK06 , 2F067LL14 , 2F067LL16 , 2F067RR24 , 2F067RR30 , 2F067RR35 , 5B057AA03 , 5B057BA03 , 5B057DA03 , 5B057DA07 , 5B057DA08 , 5B057DA15 , 5B057DA16 , 5B057DB02 , 5B057DB05 , 5B057DB09 , 5B057DC03 , 5B057DC04 , 5B057DC06 , 5B057DC22 , 5E319AC01 , 5E319CD53 , 5E319GG15

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