特許
J-GLOBAL ID:200903030992244641
組み込みシステムテスト方法及び組み込みシステムテスト装置並びに記録媒体
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小池 隆彌
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-015507
公開番号(公開出願番号):特開平11-212825
出願日: 1998年01月28日
公開日(公表日): 1999年08月06日
要約:
【要約】【課題】 様々な組み込みシステムに対応したテストデータ(入力データとそれに対応した出力期待値)が作成でき記録保持できるとともに、動作検証時には実行結果と期待値を自動照合することができるテスト方法及び装置を提供する。【解決手段】 入力データを入力イベントとして与え、ターゲットとなる組み込みシステム20bを動作させ、該動作での出力イベントを期待値となる出力データとして得ることで、前記入出力データを一対のテストデータとして記録保持するテストデータ作成手段と、前記テストデータ作成手段で一対で記録保持されたテストデータの入力データを入力イベントとして与え、ターゲットとなる組み込みシステム20bを動作させ、該動作での出力イベントを出力データとして取得し、該出力データと前記一対で記録保持されたテストデータの期待値である出力データとを比較照合する動作検証手段とからなる。
請求項(抜粋):
ターゲットとなる組み込みシステムの動作を検証する組み込みシステムテスト方法において、入力データを入力イベントとして与え、ターゲットとなる組み込みシステムを動作させ、該動作での出力イベントを期待値となる出力データとして得ることで、前記入力データと出力データを一対のテストデータとして記録保持するテストデータ作成ステップと、前記テストデータ作成ステップで一対で記録保持されたテストデータの入力データを入力イベントとして与え、ターゲットとなる組み込みシステムを動作させ、該動作での出力イベントを出力データとして取得し、該出力データと前記テストデータ作成ステップで一対で記録保持されたテストデータの期待値である出力データとを比較照合する動作検証ステップと、からなることを特徴とする組み込みシステムテスト方法。
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