電子装置の検査方法

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：高橋光男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-154090
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322977
出願日： 1992年05月22日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：

【要約】【目的】バウンダリスキャン方式を用いて集積回路をテストする際に、集積回路をテストモードに設定するための制御信号線を不要にし、かつパラレルデータの取込み及び転送を行うための回路を小型化する。【構成】集積回路では、B/S制御回路がシリアル入力端子SIから入力されたデータの先頭のカテゴリーコードを判別して、スイッチング回路SW1及びSW2を制御する。すなわち、カテゴリーコードがテストモードを示すものであれば、スイッチング回路SW1,SW2の端子bを選択して入力されたデータをB/SセルBC1〜BC8の回路に送出する。また、パラレル入力端子PI1〜OI4からのパラレルデータの取込みとB/SセルBC5〜BC8への転送は一体化した動作で行われる。

請求項（抜粋）：

電子装置を構成する複数の集積回路の入出力端子間の接続状態をバウンダリスキャン方式を用いて検査する方法において、(a)前記集積回路に入力するバウンダリスキャンデータを、該集積回路をテストモードに設定する第1のデータと該集積回路のバウンダリスキャンセルに入力する第2のデータとで構成し、(b)前記集積回路に前記第1のデータの有無を判別する回路を設け、該回路が前記第1のデータを検出した時に、前記第2のデータを前記バウンダリスキャンセルに入力することを特徴とする電子装置の検査方法。

引用特許：

審査官引用 (12件)

特開昭62-289776
特開昭62-289776
特開昭63-158475

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