特許
J-GLOBAL ID：200903031040454703
計量装置
出願人/特許権者：
アンリツ産機システム株式会社
アンリツ産機システム株式会社 について
代理人 (2件)： 西村 教光 , 鈴木 典行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-144470
公開番号（公開出願番号）：特開2006-322751
出願日： 2005年05月17日
公開日（公表日）： 2006年11月30日
要約：
【課題】 計量手段の計量が正しいか否かの検証が容易に行え、専門的な知識や経験のないオペレータであっても簡単に検証が可能となる計量装置を提供し、検証作業性の向上、検証ミスの防止を図る。【解決手段】 計量コンベア3に設けられ被計量物Wの重量に応じた計量値を出力する計量手段7と、計量手段7による計量値を統計してばらつきを表す統計値を出力する統計手段11と、計量値及び統計値を表示する表示手段9と、計量に関するパラメータを設定するパラメータ設定手段12とを備える計量装置1において、統計手段11は、同一の被計量物Wを繰り返し計量したときの繰り返し計量値のばらつきを表す繰り返し統計値を算出し、この繰り返し統計値に基づいて計量手段7の計量精度を算出し、表示手段9は、計量手段7の計量精度と、パラメータ設定手段12により設定され、計量精度の上限を表す許容値とを並べて表示する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被計量物Wを順次搬送する計量コンベア(3)と、前記計量コンベアに設けられ前記被計量物(W)の重量に応じた計量値を出力する計量手段(7)と、前記計量手段による計量値を統計してばらつきを表す統計値を出力する統計手段(11)と、前記計量値及び前記統計値を表示する表示手段(9)と、計量に関するパラメータを設定するパラメータ設定手段(12)とを備える計量装置(1)において、
前記統計手段は、同一の被計量物を繰り返し計量したときの繰り返し計量値のばらつきを表す繰り返し統計値を算出し、該繰り返し統計値に基づいて前記計量手段の計量精度を算出し、前記表示手段は、前記統計手段により算出された前記計量手段の計量精度と、前記パラメータ設定手段により設定され前記計量精度の上限を表す許容値とを並べて表示することを特徴とする計量装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
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