特許

J-GLOBAL ID：200903031043067859

測距装置

発明者： 吉田 英明
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-035791
公開番号（公開出願番号）：特開2001-272597
出願日： 1990年10月09日
公開日（公表日）： 2001年10月05日
要約：

【要約】【課題】マルチエリアAFにおける複数の分割測距領域のそれぞれから得られた距離情報を用いて、奥行き方向に分布した複数の被写体に対する全体的な合焦を考慮しつつも常に明確なピント感の有る写真が得られる測距装置を提供する。【解決手段】被写界内に設定された複数の分割測距領域から該各分割測距領域毎の被写体距離情報をそれぞれ得るための検出手段と、これら複数の各距離情報に基づく演算により上記被写界に対する測距データを得るための演算手段とを具備し、演算手段は検出手段より得られた複数の距離情報に関して所定の演算を施して平均的なピントが得られる距離を求め、複数の各距離情報のうち該平均的なピントが得られる距離の値に最も近い1つの距離情報を上記測距データとして得る演算をなす。

請求項（抜粋）：

被写界内に設定された複数の分割測距領域から該各分割測距領域毎の被写体距離情報をそれぞれ得るための検出手段と、これら複数の各距離情報に基づく演算により上記被写界に対する測距データを得るための演算手段と、を具備し、上記演算手段は、上記検出手段より得られた複数の距離情報に関して所定の演算を施して平均的なピントが得られる距離を求め、上記複数の各距離情報のうち該平均的なピントが得られる距離の値に最も近い1つの距離情報を上記測距データとして得る演算をなすものであることを特徴とする測距装置。

IPC (4件)：

G02B 7/28 ,  G01C 3/06 ,  G03B 13/36 ,  H04N 5/232

FI (4件)：

G01C 3/06 P ,  H04N 5/232 H ,  G02B 7/11 N ,  G03B 3/00 A

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平2-015221
  
• 特開昭61-269106
  
• 特開昭64-048052