特許

J-GLOBAL ID：200903031088019200

金属イオン検出方法

発明者： 渡辺 宣朗 ,  和泉 充 ,  大貫 等
出願人/特許権者： 沖電気工業株式会社 ,  国立大学法人東京海洋大学
代理人 (5件)： 小林 久夫 ,  安島 清 ,  佐々木 宗治 ,  大村 昇 ,  高梨 範夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-068314
公開番号（公開出願番号）：特開2007-248076
出願日： 2006年03月13日
公開日（公表日）： 2007年09月27日
要約：

【課題】簡便な検出手順で、少量の生体試料中や液体中の、低濃度の金属イオンの検出が可能な測定方法を実現する。【解決手段】鎖脂肪酸からなる分子層と、長鎖アルキル基を持たないテトラチアフルバレン誘導体からなる分子層との積層構造を有するラングミュア・プロジェット膜を用い、このラングミュア・プロジェット膜が反応する金属イオン種により特徴的に示される光吸収スペクトルの変化に基づき、金属イオンの検出を行う。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

鎖脂肪酸からなる分子層と、長鎖アルキル基を持たないテトラチアフルバレン誘導体からなる分子層との積層構造を有するラングミュア・プロジェット膜を用い、該ラングミュア・プロジェット膜が反応する金属イオン種により特徴的に示される光吸収スペクトルを計測することを特徴とする金属イオン検出方法。

IPC (2件)：

G01N 33/18 ,  G01N 33/24

FI (2件)：

G01N33/18 C ,  G01N33/24 B

引用特許：

出願人引用 (3件)

• アメリカ合衆国特許第6074744号
  
• 欧州特許第0864373号
  
• 日本国特許第2952346号