特許
J-GLOBAL ID：200903031108415680
光分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
竹本 松司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-087849
公開番号（公開出願番号）：特開平8-285772
出願日： 1995年04月13日
公開日（公表日）： 1996年11月01日
要約：
【要約】【目的】 測定現場に携帯して行う簡易測定に適した複数の光分析測定を行うことができる光分析装置を提供する。【構成】 測定用セル3中の試料に光を照射する照射系1,2と試料からの光を検出する測光系4〜8とを含む光学手段によって試料分析を行う光分析装置において、前記測光系4〜8は、照射光が測定用セル3の配置位置内の収束点aを通る光路上において収束点aを望む方向に設けられる第1の検出手段4と、光路外において収束点aを望む方向に設けられる第2の検出手段6とを備え、第1検出手段4の出力または第2検出手段6の出力を選択的に用いて、少なくとも第1検出手段4の出力あるいは第2検出手段6の出力の照射光度に対する比を求めて試料の光分析を行うものであり、共通の照射系を用い検出手段の出力の選択することによって、1台の光分析装置で複数の光分析を可能とする。
請求項（抜粋）：
測定用セル中の試料に光を照射する照射系と試料からの光を検出する測光系とを含む光学手段によって試料分析を行う光分析装置において、前記測光系は、照射光が測定用セルの配置位置内の収束点を通る光路上において収束点を望む方向に設けられる第1の検出手段と、前記光路外において収束点を望む方向に設けられる第2の検出手段とを備え、前記第1検出手段の出力または第2検出手段の出力を選択的に用いて、少なくとも第1検出手段の出力あるいは第2検出手段の出力の照射光度に対する比を求めて試料の光分析を行うことを特徴とする光分析装置。
IPC (3件)：
G01N 21/59
, G01N 21/27
, G01N 21/64
G01N 21/59 Z
, G01N 21/27 Z
, G01N 21/64 Z
