特許
J-GLOBAL ID：200903031117250812
3次元計測用内視鏡装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊藤 進
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-317970
公開番号（公開出願番号）：特開平5-111460
出願日： 1991年12月02日
公開日（公表日）： 1993年05月07日
要約：
【要約】【目的】 少なくとも、術者が反射光の強度により測定誤差が大きく測定不能の状態を認識でき、さらに、照射光及び測定光のうち少なくとも測定光の照射強度を制御できる3次元計測用内視鏡装置を得る。【構成】 ピークホールド回路44は、CCD32からの撮像信号のピーク値をホールドし、ピーク値は比較回路45で所定の基準電圧46と比較され、基準電圧46よりも小さい場合、カウンタ47でカウントし、所定のカウント数に達したら距離表示回路43に、エラー情報を表示させるようになっている。信号処理手段4は、前記ピークホールド回路44及び前記カウンタ47をリセットし、カウンタ47が所定のカウント数に達したら、前記測定光走査制御手段30の走査及び前記半導体レーザ23の発光を停止させるコントロール回路48を備えている。
請求項（抜粋）：
距離などの計測のための3次元的計測用の測定光を投影する測定光投影光学系と、照明光を広域的に照射する照明光学系と、前記測定光投影光学系に測定光を伝送する測定光伝送部材と、前記照明光学系に通常照明光を伝送する照明光伝送部材と、前記測定光または照明光による光学像を撮像する撮像手段とを有する計測用内視鏡と、前記測定光伝送部材と前記照明光伝送部材とに、測定光及び照明光を供給する機能を有する光源装置と、前記撮像手段により得られた撮像信号により、前記測定光投影光学系からの測定光及び前記照明光学系からの照明光のうち少なくとも該測定光投影光学系からの測定光を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする3次元計測用内視鏡装置。
IPC (4件)：
A61B 1/06
, A61B 1/00 300
, A61B 1/04 372
, G02B 23/26
