特許
J-GLOBAL ID：200903031133989291
光反射試験器
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井出 直孝 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-167104
公開番号（公開出願番号）：特開平7-019995
出願日： 1993年07月06日
公開日（公表日）： 1995年01月20日
要約：
【要約】【目的】 光伝送路に光パルスを入射してその散乱光を測定することによりその光伝送路内の障害点を検出する光反射試験器において、SN比を改善するための平均処理に要する時間を短縮する。【構成】 光周波数が時間的に変化する光パルスを光伝送路に入射し、光周波数が異なる散乱光成分による測定結果を加算する。
請求項（抜粋）：
測定対象の光伝送路に探索光を入射する手段と、この探索光によって上記光伝送路内で発生した散乱光を受光する手段と、この受光する手段の出力する電気信号を処理して上記光伝送路の障害点を求める信号処理手段とを備えた光反射試験器において、上記入射する手段は探索光として光周波数が時間的に変化する光信号を発生する手段を含み、上記信号処理手段は光周波数が異なる散乱光成分による測定結果を加算する手段を含むことを特徴とする光反射試験器。
IPC (2件)：
引用特許：
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