特許

J-GLOBAL ID：200903031179518994

磁気ディスク装置の高低温試験方法及び装置

発明者： 清水 収 ,  山崎 静男 ,  三浦 岳史
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-084017
公開番号（公開出願番号）：特開2002-286620
出願日： 2001年03月23日
公開日（公表日）： 2002年10月03日
要約：

【要約】【課題】磁気ディスク装置の高低温試験における試験精度改善による歩留まり向上及び実装密度向上によるエージング試験装置の省スペース化。【解決手段】プログラム制御にて高低温環境を作り、外付けしたテスタにて複数の磁気ディスク装置に均一な温度制御をしながら試験する装置。

請求項（抜粋）：

複数台の磁気ディスク装置(非動作/動作状態に関わらず)を高低温の環境下で試験する高低温度試験に於いて、高低温試験室の内部を仕切り板を間に挟む二重構造で空気の流れを制御する手段と、ファン等の回転体に防振ゴムを用い、且つ高低温試験室と高低温発生装置(冷凍機)を分離した低振動化を特徴とした高低温試験装置。

IPC (2件)：

G01N 17/00 ,  G11B 5/00

FI (2件)：

G01N 17/00 ,  G11B 5/00 D

Fターム (13件)：

2G050AA01 ,  2G050AA02 ,  2G050AA07 ,  2G050BA10 ,  2G050CA02 ,  2G050DA03 ,  2G050EA01 ,  2G050EA05 ,  2G050EC01 ,  2G050EC03 ,  5D091AA10 ,  5D091FF02 ,  5D091HH11