特許

J-GLOBAL ID：200903031185916292

絶縁電線被覆の劣化検出方法および装置

発明者： 吉田 浩隆 ,  崎田 栄一 ,  中村 友彦 ,  進藤 博昭 ,  増田 順一
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-227355
公開番号（公開出願番号）：特開平7-083855
出願日： 1993年09月13日
公開日（公表日）： 1995年03月31日
要約：

【要約】【目的】本発明は、絶縁電線を非破壊で測定し、その絶縁被覆の劣化程度を、簡易かつ定量的に把握できる絶縁電線被覆の劣化検出方法および装置を提供することを目的とする。【構成】本発明は、発光素子5、受光素子6の対を絶縁電線の長手方向に走査させながら、絶縁被覆の表面状態を測定する入力装置4と、受光したアナログ信号を順次、デジタル信号に変換するA/Dコンバータ7と、波形データ列として記憶する波形記憶装置8と、、波形データ列から出現頻度分布を作成し、出現頻度分布から亀裂を検出するためのしきい値レベルを算出し、亀裂の数を測定し、亀裂数から絶縁被覆の劣化程度を決定する演算装置9と、出力、表示を行う出力装置11とを具備して構成する。

請求項（抜粋）：

発光素子、受光素子対からなる光センサを絶縁電線の長手方向に所定の距離だけ走査することにより得られる、絶縁被覆表面の反射強度列を用い、反射強度列の各振幅値、すなわち輝度値を読み取り、輝度値ごとの出現回数を数え、出現頻度の分布を求め、出現頻度分布から出現頻度が最大になる輝度値Imax を見つけ、さらにImaxから輝度値が小さくなる方向に出現頻度分布を追跡して、最初に出現頻度が零になる輝度値Iraise を検出し、Iraise と輝度値零の中間値ITH、すなわちしきい値を求め、反射強度列の中で輝度値がしきい値よりも低下している箇所の数、すなわち亀裂数を測定し、亀列数から絶縁被覆の劣化程度を定量化し、これによって絶縁被覆の劣化検出を行うことを特徴とする絶縁電線被覆の劣化検出方法。