特許

J-GLOBAL ID：200903031197341252

鍍金検査装置

発明者： 桑折 知幸 ,  藤原 孝洋
出願人/特許権者： ジャパン・イー・エム株式会社
代理人 (1件)： 平田 忠雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-026194
公開番号（公開出願番号）：特開平5-196568
出願日： 1992年01月17日
公開日（公表日）： 1993年08月06日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、高精度の部品を必要とせず、コストダウンが図れることを目的とする。【構成】 本発明の鍍金検査装置は、受光手段に地金の反射率と鍍金の反射率の間に所定の差を有する波長の反射光を受光させる構成を有する。

請求項（抜粋）：

地金に地金の色と相違した色の鍍金を施された試料を照射する照射手段と、前記試料の反射光を受光する受光手段と、前記受光手段の受光光像に基づいて前記鍍金の位置,或いは面積を判定する判定手段を備え、前記受光手段は前記地金の反射率と前記鍍金の反射率の間に所定の差を有する波長の反射光を受光することを特徴とする鍍金検査装置。

IPC (3件)：

G01N 21/55 ,  G01B 11/28 ,  G01N 21/88

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭63-255646
  
• 特公平1-040254
  
• 特開昭57-166547
  
• 特開昭63-017334
  
• 特開平1-273939