特許
J-GLOBAL ID:200903031203101480
倣いプローブの校正方法および校正プログラム
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-308698
公開番号(公開出願番号):特開2003-114112
出願日: 2001年10月04日
公開日(公表日): 2003年04月18日
要約:
【要約】【課題】 倣いプローブの高精度な校正方法を提供すること。【解決手段】 倣いプローブによって校正基準を予備測定した後、この校正基準を測定するパートプログラムを作成すると共に該パートプログラムを実行して校正測定を行ない、座標変換関数の校正値と校正基準の基準座標値とを求めた後、新たなこれらの校正値と基準座標値を用いて、再度、この校正基準を測定するパートプログラムを作成すると共に該パートプログラムを実行して校正測定を行ない、より高精度な座標変換関数の校正値と校正基準の基準座標値とを求める。
請求項(抜粋):
被測定物を倣い測定する倣いプローブによって校正基準を測定して該校正基準の基準座標値を得る予備測定ステップと、前記倣いプローブの測長センサの出力を校正する座標変換関数と、測定子のオフセットを示すプローブベクトルとを用いて前記校正基準を測定するパートプログラムを作成すると共に該パートプログラムを実行して校正測定を行う校正測定ステップと、前記校正測定ステップにおける測定結果から、前記座標変換関数の校正値と前記校正基準の第2の基準座標値とを算出する座標変換関数校正ステップと、前記座標変換関数校正ステップにおける算出結果から前記プローブベクトルの校正値を算出するプローブベクトル校正ステップとを備える倣いプローブの校正方法において、前記座標変換関数校正ステップにおける算出結果を用いて、前記校正測定ステップと前記座標変換関数校正ステップとを再度実行させる再実行ステップを備え、前記プローブベクトル校正ステップは、前記再実行された座標変換関数校正ステップにおける算出結果を用いて前記プローブベクトルの校正値を算出する、ことを特徴とする倣いプローブの校正方法。
Fターム (17件):
2F069AA04
, 2F069AA13
, 2F069AA64
, 2F069AA66
, 2F069BB40
, 2F069CC08
, 2F069DD22
, 2F069FF01
, 2F069FF07
, 2F069GG01
, 2F069GG11
, 2F069GG62
, 2F069HH02
, 2F069JJ08
, 2F069JJ26
, 2F069LL02
, 2F069NN00
引用特許:
審査官引用 (3件)
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三次元位置制御システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-315955
出願人:株式会社ミツトヨ
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特開昭59-030005
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計測方法および計測装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-003035
出願人:株式会社ミツトヨ
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