特許

J-GLOBAL ID：200903031272509881

質量分析データの解析方法および質量分析データの解析装置および質量分析データの解析プログラムならびにソリューション提供システム

発明者： 吉成 清美 ,  小林 金也 ,  李 燦
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 磯野 道造
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-185072
公開番号（公開出願番号）：特開2004-028782
出願日： 2002年06月25日
公開日（公表日）： 2004年01月29日
要約：

【課題】未知構造物質にも対応可能で、高精度に、親イオンの構造を同定したり、推定構造を導出することを主な目的とする。【解決手段】イオン化した試料と、そのような試料を親イオンとする解離イオンとについて質量分析データを取得し、親イオンの構造の候補について分子軌道解析を行うことで解離イオン候補を導出し、親イオン候補、解離イオン候補についての解析結果について表示するとともに、解離イオン候補のデータと、実測した解離イオンのデータとを比較して親イオン候補の構造を評価する質量分析データの解析方法。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

イオン化した試料について計測した質量分析データと、前記試料を親イオンとして、これを開裂して得られる解離イオンの質量分析データとに基づいて前記試料の構造を解析する解析方法であって、 前記質量分析データに基づいて取得した前記親イオンの候補について熱的、化学的、エネルギ的な特性の少なくとも一つを計算して親イオン候補の構造上の特性を導出し、この特性に基づいて親イオン候補についての解離イオンを解離イオン候補として導出し、前記解離イオン候補と計測した前記解離イオンの質量スペクトルを比較することで前記親イオン候補を評価し、前記親イオンを同定することを特徴とする質量分析データの解析方法。

IPC (2件)：

G01N27/62 ,  H01J49/26

FI (3件)：

G01N27/62 V ,  G01N27/62 D ,  H01J49/26

Fターム (3件)：

5C038HH23 ,  5C038HH26 ,  5C038HH28