特許

J-GLOBAL ID：200903031285138840

散乱断面積測定装置

発明者： 稲沢 良夫 ,  宮下 裕章 ,  牧野 滋 ,  柳沢 基 ,  砂原 米彦
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 宮田 金雄 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-189349
公開番号（公開出願番号）：特開平9-033245
出願日： 1995年07月25日
公開日（公表日）： 1997年02月07日
要約：

【要約】【課題】 従来の方法は被測定体を2軸方向に回転させる必要があり、大形、大重量の被測定体では散乱断面積が測定できないという課題があった。【解決手段】 被測定体を乗せて設定角度以上に回転が可能な支持回転機構と、支持回転機構から測定波長で決まる距離以上離れて被測定体に対して上下方向に移動する上下移動機構と、上下移動機構に取り付けた送受信器を備え、送受信器を用いて被測定体との角度と高さ方向で形成された測定面へのフレネル変換に基づく散乱界値を所定の円筒面範囲で積算して得られる反射源分布を、被測定体相当の範囲で積算して遠方の散乱断面積を得るようにした。また更に、上下移動機構に換えて同等機構を、また支持回転機構を固定支持機構として上下移動機構側を対応して回転機構または相当機構とした。

請求項（抜粋）：

被測定体を乗せて設定角度以上に回転が可能な、また必要に応じて上下動する支持回転機構と、上記支持回転機構から測定波長で決まる必要距離以上離れ、上記被測定体に対して相対的に上下方向に移動する上下移動機構と、上記上下移動機構に取り付けた上記測定波長を用いる送受信器を備え、上記送受信器を用いて被測定体との角度と高さ方向で形成された測定面へのフレネル変換に基づく散乱界値を所定の円筒面範囲で積算して得られる反射源分布を、上記被測定体相当の範囲で積算して遠方の散乱断面積を得る散乱断面積測定装置。