特許
J-GLOBAL ID：200903031323330105
レーザ走査型顕微鏡
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-236687
公開番号（公開出願番号）：特開2003-043369
出願日： 2001年08月03日
公開日（公表日）： 2003年02月13日
要約：
【要約】【課題】良好な試料画像を表示できるレーザ走査型顕微鏡を提供すること。【解決手段】レーザ光を観察対象の試料に集束させて照射させると共に試料に対して走査させ、試料から得られた光を光電変換手段33により検出することにより走査各位置毎の光検出出力を画素データとして得て試料の画像を得るようにした顕微鏡において、サンプリング周期変更可能であって、前記走査の各位置毎に前記光電変換手段の光検出出力を、設定サンプリング周期対応にサンプリングする手段35と、このサンプリングされて得られた走査位置での光検出出力を平均化してその位置での画素データとする演算手段36と、所望の平均化数を設定するとその設定した数対応に前記サンプリング周期を変更する変更手段38とを具備する。
請求項（抜粋）：
レーザ光を観察対象の試料に集束させて照射させると共に前記レーザ光は試料に対して走査させ、試料から得られた光を光電変換手段により検出することにより前記走査の各位置毎の光検出出力を画素データとして得て前記試料の画像を得るようにしたレーザ走査型顕微鏡において、サンプリング周期変更可能であって、前記走査の各位置毎に前記光電変換手段の光検出出力を、設定サンプリング周期対応にサンプリングする手段と、このサンプリングされて得られた前記走査位置における光検出出力を平均化してその位置での画素データとする演算手段と、所望の平均化数を設定するとその設定した数対応に前記サンプリング周期を変更する変更手段と、を具備することを特長とするレーザ走査型顕微鏡。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (6件)：
2H052AA07
, 2H052AC15
, 2H052AC27
, 2H052AC34
, 2H052AF14
, 2H052AF25
