特許
J-GLOBAL ID：200903031326165938
電子部品測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-296061
公開番号（公開出願番号）：特開平6-148299
出願日： 1992年11月05日
公開日（公表日）： 1994年05月27日
要約：
【要約】【目的】 短時間で効率良く多数の電子部品の測定ができる測定装置を提供する。【構成】 複数の電子部品1の各々について、異なる複数の特性を測定する電子部品測定装置において、複数の電子部品1をnブロック(nは任意の数)に分割し、各ブロック毎に複数の特性を測定する測定器6a,6b....6nを用意し、各ブロック内で測定器により測定する電子部品の切換えをリレー装置4により行い、各ブロックの測定器で同時に測定を行うようにした。
請求項（抜粋）：
複数の電子部品の各々について、異なる複数の特性を測定する電子部品測定装置において、上記複数の電子部品をnブロック(nは任意の数)に分割し、各ブロック毎に上記複数の特性を測定する測定器を用意し、上記各ブロック内で上記測定器により測定する電子部品の切換えをリレー装置により行い、各ブロックの上記測定器で同時に測定を行うようにした電子部品測定装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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