特許
J-GLOBAL ID：200903031365370700
LEDチップの特性測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大西 孝治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-186950
公開番号（公開出願番号）：特開平11-125579
出願日： 1998年06月16日
公開日（公表日）： 1999年05月11日
要約：
【要約】【目的】 測定すべきLEDチップ10を載置するチップ台30からセンサを分離し、任意のセンサの使用を可能にする。チップ台30とセンサを接続する光ファイバー40の劣化を防止する。【構成】 LEDチップ10をピックアップするために、プローブ20が測定位置で軸方向に往復移動する。プローブ20との干渉を回避するために、チップ台30が測定位置と退避位置の間を移動する。チップ台30とセンサを接続する光ファイバー40が固定され、測定位置に移動したチップ台30の光射出口33に光ファイバー40の一端が対向する。光ファイバー40の他端にセンサが接続される。
請求項（抜粋）：
LEDチップをピックアップするために測定位置で軸方向に往復移動するプローブと、測定位置と退避位置の間を往復移動し、測定位置でプローブにより載置されたLEDチップを点灯させると共に、そのLEDチップから発する光を射出口から外部に射出する可動式のチップ台と、測定位置に移動したチップ台の射出口に先端が対向するように固定され、射出口から射出される光を、後端に接続されたセンサに導く固定式の光ファイバーとを具備することを特徴とするLEDチップの特性測定装置。
IPC (4件)：
G01M 11/00
, G01R 31/26
, H01L 21/66
, H01L 33/00
G01M 11/00 T
, G01R 31/26 F
, H01L 21/66 X
, H01L 33/00 N
