特許
J-GLOBAL ID：200903031395119891
光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
深見 久郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-344765
公開番号（公開出願番号）：特開平5-172759
出願日： 1991年12月26日
公開日（公表日）： 1993年07月09日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 この発明はごみを欠陥と誤判定することがないような光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置を提供することを主要な特徴とする【構成】 可動ステージ2の上に液晶ディスプレイ3を設置し、液晶ディスプレイ3にパターンジェネレータ10から発生された表示パターンを表示させ、可動ステージ2を一方方向に移動させ、液晶ディスプレイ3上の表示パターンをCCDユニット4によって読取る。パーソナルコンピュータ5はその読取値と標準データとの一致を判別し、黒を表示しているときの画素データが黒より白く、また反転して白を表示しているときの画素データが白より白くなったときの画素をごみと判定し、欠陥画素とは区別する。
請求項（抜粋）：
液晶ディスプレイの欠陥を検査するための光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置であって、前記液晶ディスプレイを一方方向に移動させるための可動ステージ、前記液晶ディスプレイの検査のためのパターンを表示させる表示制御手段、前記可動ステージの上方から前記液晶ディスプレイの表示パターンを読取るイメージセンサ、および前記イメージセンサの読取値より、前記液晶ディスプレイの欠陥と前記液晶ディスプレイ上のごみとを判別する判別手段を備えた、光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置。
IPC (3件)：
G01N 21/88
, G01M 11/00
, G02F 1/13 101
