走査型レーザ顕微鏡装置及び光量検出装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：上田邦生 , 藤田考晴
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-283023
公開番号（公開出願番号）：特開2007-093988
出願日： 2005年09月28日
公開日（公表日）： 2007年04月12日
要約：

【課題】オペレータに対して、光刺激により標本に照射した光量を通知することにより、定量的な観察を可能とする走査型レーザ顕微鏡装置及び光量検出装置を提供することを目的とする。【解決手段】標本の特定部位に刺激を与えるための刺激用レーザ光を照射する刺激用光学系20と、刺激用レーザ光の光強度を計測する光検出器42と、光検出器42からの計測値を補正する光量補正回路43と、光量補正回路43からの検出値を積算する積算回路44と、積算回路44からの検出積算値を表示する表示装置6とを備えるレーザ顕微鏡装置を提供する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

標本の特定部位に刺激を与えるための刺激用レーザ光を照射する刺激用光学系と、前記刺激用レーザ光の光強度を計測する光強度計測手段と、前記光強度計測手段からの計測値を積算する積算手段と、前記積算手段の積算結果を表示する表示手段とを具備するレーザ顕微鏡装置。

IPC (2件)：

G02B 21/00 , G01N 21/64

FI (2件)：

G02B21/00 , G01N21/64 E

Fターム (23件)：

2G043AA03 , 2G043FA01 , 2G043FA02 , 2G043FA06 , 2G043GA02 , 2G043GB21 , 2G043HA01 , 2G043HA02 , 2G043HA09 , 2G043KA09 , 2G043LA03 , 2H052AA08 , 2H052AB06 , 2H052AC02 , 2H052AC07 , 2H052AC14 , 2H052AC15 , 2H052AC18 , 2H052AC27 , 2H052AC34 , 2H052AF06 , 2H052AF14 , 2H052AF21

引用特許：

出願人引用 (1件)

走査型レーザー顕微鏡
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-392524 出願人：オリンパス光学工業株式会社

審査官引用 (7件)

走査型レーザー顕微鏡
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-392524 出願人：オリンパス光学工業株式会社
顕微鏡
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-040101 出願人：オリンパス光学工業株式会社, 株式会社日本ローパー, 科学技術振興事業団
試料調整法
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-118633 出願人：オリンパス光学工業株式会社, 株式会社日本ローパー, 科学技術振興事業団

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