特許

J-GLOBAL ID：200903031421302250

汚泥濃度水分測定装置

発明者： 木村 耕三 ,  大井 康裕 ,  堀岡 悟 ,  青木 利明
出願人/特許権者： 栗田工業株式会社 ,  日機装株式会社
代理人 (1件)： 津久井 照保
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-313589
公開番号（公開出願番号）：特開2000-234992
出願日： 1999年11月04日
公開日（公表日）： 2000年08月29日
要約：

【要約】【課題】 サンプル皿を繰り返し使用でき、測定時間を短縮する。【解決手段】 モータ4に接続した縦方向の回転駆動軸3と、回転駆動軸に対して回動不能であるが、上下動可能な状態で回転駆動軸に設けられた昇降基部6と、昇降基部に取り付けた2本のアーム9と、各アームの先端に設けられ、底部を下方に突出した状態でサンプル皿を下から支持可能な皿ホルダ7と、昇降基部を上下動する昇降機構と、を備え、回転駆動軸の回転により皿ホルダが描く軌跡上に、皿洗浄ステージと、洗浄皿乾燥ステージと、サンプル供給ステージと、加熱乾燥重量測定ステージとを配置した。

請求項（抜粋）：

駆動源に接続した縦方向の回転駆動軸と、この回転駆動軸に対して回動不能であるが、上下動可能な状態で回転駆動軸に設けられた昇降基部と、この昇降基部に、放射状に取り付けられた複数本のアームと、各アームの先端に設けられ、底部を下方に突出した状態でサンプル皿を下から支持可能な皿ホルダと、上記昇降基部を上下動する昇降機構と、を備え、回転駆動軸の回転により皿ホルダが描く軌跡上に、少なくとも皿洗浄ステージと、洗浄皿乾燥ステージと、サンプル供給ステージと、加熱乾燥重量測定ステージと、を配置したことを特徴とする汚泥濃度水分測定装置。