特許
J-GLOBAL ID：200903031571027826
電子部品の測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-119395
公開番号（公開出願番号）：特開平7-325108
出願日： 1994年05月31日
公開日（公表日）： 1995年12月12日
要約：
【要約】【目的】 電子部品の外部電極にプローブを接触させて電気的特性を測定する測定装置において、プローブの上下動により容易に側面の外部電極とプローブの先端とを接触させる。【構成】 部品載置台5上に電子部品1aの側面の外部電極2a、2bに対向した対向傾斜面6a、6bを具備させるとともに、プローブ7a、7bの先端に、対向傾斜面6a、6bと摺動する摺動部位8a、8bと外部電極に接触する接触部位9a、9bとを有する接触子を設ける。プローブ7a、7bを電子部品1aに対して上下動して接触子の摺動部位8a、8bを対向傾斜面6a、6bに沿って案内させることにより、接触子の接触部位9a、9bを水平方向に移動させて外部電極2a、2bと接触及び分離させる。
請求項（抜粋）：
部品載置台上に電子部品を配し、該電子部品の少なくとも側面に形成された外部電極にプローブを接触させて電気的特性を測定する電子部品の測定装置において、上記部品載置台上に電子部品の外部電極との距離が順次短くなる対向傾斜面を具備させるとともに、上記プローブの先端に接触子を設け、該接触子を対向傾斜面に沿って案内させることにより上記外部電極に接触せしめることを特徴とする電子部品の測定装置。
IPC (3件)：
G01R 1/073
, G01R 31/26
, H01G 13/00 361
