特許

J-GLOBAL ID：200903031582134918

変形測定法と変形測定用グリッドシ-ト

発明者： 岸本 哲 ,  謝 恵民 ,  新谷 紀雄
出願人/特許権者： 科学技術庁金属材料技術研究所長
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-375230
公開番号（公開出願番号）：特開2000-155104
出願日： 1998年11月20日
公開日（公表日）： 2000年06月06日
要約：

【要約】【課題】 微小な介在物周辺や切り欠き部のひずみ集中と切り欠きの存在が材料全体の変形に及ぼす影響について調査できる変形測定法を提供すること。【解決手段】 試料上に作製したモデルグリッドに粒子線を2種類以上の線密度で照射し、2次電子発生量の違いにより2種類以上のモアレ縞を形成させて試料の変形量を測定することを特徴とする変形測定法、さらに、モデルグリッドをプラスチック、ポリマー、ビニール、ゴムあるいは金属のいずれかの薄膜上に作製し、これを試料や構造物に貼り付けることを特徴とする変形測定用グリッドシートを提供する。

請求項（抜粋）：

試料表面に、試料とは二次電子発生量の異なる物質を2種以上の線密度で配設したモデルグリッドに、粒子線を2種以上の線密度で照射し、二次電子発生量の違いによる2種以上のモアレ縞を形成させて試料の変形量を測定することを特徴とする変形測定法。

IPC (2件)：

G01N 23/225 ,  G01B 15/00

FI (2件)：

G01N 23/225 ,  G01B 15/00 B

Fターム (19件)：

2F067AA65 ,  2F067BB17 ,  2F067EE04 ,  2F067HH06 ,  2F067HH07 ,  2F067HH08 ,  2F067JJ05 ,  2F067KK04 ,  2F067RR35 ,  2F067SS15 ,  2G001AA03 ,  2G001AA05 ,  2G001BA07 ,  2G001GA06 ,  2G001KA03 ,  2G001KA20 ,  2G001RA01 ,  2G001RA02 ,  2G001RA04