特許
J-GLOBAL ID：200903031595196106
外観検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
滝本 智之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-140236
公開番号（公開出願番号）：特開平8-334475
出願日： 1995年06月07日
公開日（公表日）： 1996年12月17日
要約：
【要約】【目的】 不良判定画像のみを記録および再現して解析することが可能な外観検査装置を提供することを目的とする。【構成】 検査開始信号8を入力する入力部16と、カメラ2から出力され画像処理部4へ入力される判定画像の映像信号6を入力および記憶する映像信号入力部12と第1の画像メモリ部13と、画像処理部4から出力される良否判定結果信号9を入力する入力部15と、この良否判定結果信号入力部15が不良判定を示す時、第1の画像メモリ部13のデータを記憶する第2の画像メモリ部14と、このデータを映像信号として表示出力する映像信号出力部17と、このデータを画像データとして全て記憶しておく第3の画像メモリ部29と、全体を制御する制御部18からなる構成とすることにより、画像処理部4での不良判定画像のみを記録・再現でき、不良判定画像の解析が容易にできる。
請求項（抜粋）：
カメラを介して連続して取り込んだ部品や製品の画像を順次判定する画像記憶部を備えた画像処理部と、上記画像記憶部からの映像信号を入力信号とし、この入力信号を順次記憶する第1の画像記憶部と、この第1の画像記憶部に接続されて上記画像処理部で特定の項目の不良または総合的に不良と判定された部品または製品の画像のみを第1の画像記録部から取り出して記憶する第2の画像記憶部と、この第2の画像記憶部に記憶された画像を取り出して画像を表示する画像表示部からなる解析部を備えた外観検査装置。
IPC (4件)：
G01N 21/88
, G01B 11/24
, G06T 7/00
, H04N 7/18
G01N 21/88 J
, G01B 11/24 C
, H04N 7/18 B
, G06F 15/62 400
