特許
J-GLOBAL ID:200903031596707503
計測装置、計測方法及び計測システム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
長谷川 芳樹 (外4名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-228310
公開番号(公開出願番号):特開2003-042760
出願日: 2001年07月27日
公開日(公表日): 2003年02月13日
要約:
【要約】【課題】 計測誤差の低減が図れる計測装置、計測方法及び計測システムを提供すること。【解決手段】 計測領域に設置され互いの相対位置関係が分かる複数の基準物をカメラ10により撮影し、その撮影画像に基づいてカメラ10の撮影位置、撮影角度などの撮影条件に関するパラメータを算出し、そのパラメータを用い車両3を撮影した撮影画像に基づいて車両3の速度などを計測する。カメラ10の撮影条件に関するパラメータが正確に与えられるため、正確な計測が可能となる。
請求項(抜粋):
計測領域に設置され互いの相対位置関係が分かる複数の基準物を撮影した撮影画像に基づいて、前記撮影画像を撮影した撮影手段の撮影条件に関するパラメータを算出する算出手段と、前記撮影手段の前記パラメータを用い、計測対象物を撮影した撮影画像に基づいて前記計測対象物に関する物理量を計測する計測手段と、を備えた計測装置。
IPC (8件):
G01C 11/28
, G01B 11/00
, G01P 3/36
, G06T 1/00 330
, G06T 7/20
, G06T 7/20 100
, G08G 1/01
, G08G 1/04
FI (8件):
G01C 11/28
, G01B 11/00 H
, G01P 3/36 C
, G06T 1/00 330 B
, G06T 7/20 B
, G06T 7/20 100
, G08G 1/01 D
, G08G 1/04 C
Fターム (29件):
2F065AA04
, 2F065CC11
, 2F065DD04
, 2F065FF04
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065QQ03
, 2F065QQ24
, 2F065QQ25
, 2F065RR05
, 5B057AA16
, 5B057BA11
, 5B057CH01
, 5B057CH11
, 5B057DA07
, 5B057DA13
, 5B057DA17
, 5H180AA01
, 5H180BB06
, 5H180CC04
, 5H180DD03
, 5L096BA04
, 5L096CA04
, 5L096DA02
, 5L096EA14
, 5L096EA41
, 5L096FA69
, 5L096HA04
, 5L096KA03
引用特許:
審査官引用 (1件)
-
物体認識装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-227684
出願人:オムロン株式会社
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