特許
J-GLOBAL ID：200903031613365280
光ディスク用スタンパ、光ディスク及び光ディスク検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
池浦 敏明 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-257599
公開番号（公開出願番号）：特開平7-093829
出願日： 1993年09月21日
公開日（公表日）： 1995年04月07日
要約：
【要約】【目的】 スタンパによって形成と同時に情報記録用のトラック溝及びアドレスピットが基板に転写される際の異常転写が信号品質に与える影響を迅速に調べるための検査用光ディスクと、それを用いた光ディスク検査方法を提供すること。【構成】 トラッキング溝やアドレスピットなどのプリフォーマットピットに対応する凹凸部を有する光ディスク用スタンパにおいて、ランドもしくはグルーブ部におけるプリフォーマットピットに相当する凸部を、ランドもしくはグルーブ部の中央部からランドもしくはグルーブ部の幅の±25%以内の範囲で意図的にずらして形成した領域を有し、かつ該領域がディスク径方向におけるほぼ中央に位置していることを特徴とする光ディスク用スタンパを用いて検査用光ディスク基板を作製する。この基板を有する光ディスクを利用してプリフォーマットをずらして形成した部分と、そうでない部分の信号を比較し、検査を行う。
請求項（抜粋）：
トラッキング溝やアドレスピットなどのプリフォーマットピットに対応する凹凸部を有する光ディスク用スタンパにおいて、ランドもしくはグルーブ部におけるプリフォーマットピットに相当する凸部を、ランドもしくはグルーブ部の中央部からランドもしくはグルーブ部の幅の±25%以内の範囲で意図的にずらして形成した領域を有し、かつ該領域がディスク径方向におけるほぼ中央に位置していることを特徴とする光ディスク用スタンパ。
IPC (5件)：
G11B 7/26 511
, G11B 7/26
, B29C 45/26
, B29C 45/40
, G11B 7/24 571
