特許
J-GLOBAL ID：200903031614782330
識別及び検証方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小池 晃 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-528679
公開番号（公開出願番号）：特表2003-511667
出願日： 2000年10月03日
公開日（公表日）： 2003年03月25日
要約：
【要約】物質又は製品(11)に内在又は外在する1種類又は複数種類の識別添加剤を含む装置及び方法。物質又はその製造ポイントを識別又は検証するために螢光X線分析(20、21)によって識別添加剤が検出される。物質内識別添加剤の固有の元素構成を決定するために螢光X線によってこれら元素の存在又は不在を後で検証する目的で、複数の識別添加剤が物質の一部分として作成されるか又は識別添加剤が物質に被覆されるか、ラベル内に配置されるか又は物質内に添加される。
請求項（抜粋）：
少なくとも1つの物質に含まれる少なくとも1種類の識別添加剤を検出する方法であって、 上記物質の少なくとも一部分に少なくとも1種類の上記識別添加剤を添加するステップと、 少なくとも1種類の上記識別添加剤に少なくとも1種類のX線を放射させるステップと、 少なくとも1つの上記X線が比エネルギを持つかどうかを分析するステップとを有することを特徴とする検出方法。
Fターム (17件)：
2G001AA01
, 2G001AA02
, 2G001AA10
, 2G001BA04
, 2G001CA01
, 2G001GA01
, 2G001JA04
, 2G001KA01
, 2G001KA20
, 2G001LA20
, 2G001NA11
, 2G001NA15
, 2G001NA17
, 2G001RA08
, 2G001SA01
, 2G001SA14
, 2G001SA15
