特許
J-GLOBAL ID：200903031626014508
製造不良解析支援システム、製造システム、および製造不良解析支援方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
富田 和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-102583
公開番号（公開出願番号）：特開平8-297699
出願日： 1995年04月26日
公開日（公表日）： 1996年11月12日
要約：
【要約】【目的】対策の効果の有無等の判断と、対策の選択とを支援する。【構成】不良実績から求められる不良率と、対策実績から求められる対策内容および対策時刻とを関連付けて管理する。過去に実行された対策のうち、効果がなかったもの、効果が顕著だったもの、および新規なものの内容と、その対策の実行時刻前後の不良率とを、出力装置に対応付けて出力する。
請求項（抜粋）：
入力装置、出力装置および情報処理装置を備え、製品の製造ラインにおいて発生する製品不良の解析を行う製造不良解析支援システムであって、上記情報処理装置は、不良率管理期間と、該期間における上記不良の発生率である不良率とを有する不良率管理データを一以上保持するための不良率管理データ記憶手段と、上記製造ラインにおいて実行された対策の対策内容および対策時刻を有する対策情報を一以上保持するための対策実績記憶手段と、対策実績記憶手段に保持された上記対策情報の少なくともいずれかについて、該対策情報に含まれる上記対策内容、および、該対策情報に含まれる上記対策時刻の前後の上記不良率を、上記出力装置に対応付けて出力する対策状況出力処理を行う対策状況出力手段とを備えることを特徴とする製造不良解析支援システム。
IPC (4件)：
G06F 17/60
, B23Q 41/08
, H01L 21/02
, H01L 21/66
G06F 15/21 Z
, B23Q 41/08 Z
, H01L 21/02 Z
, H01L 21/66 Z
