特許

J-GLOBAL ID：200903031668301116

液晶パネルの検査方法

発明者： 仁木 憲一 ,  井上 一樹 ,  綿村 茂樹
出願人/特許権者： 株式会社アドバンスト・ディスプレイ
代理人 (1件)： 朝日奈 宗太 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-121406
公開番号（公開出願番号）：特開平8-313396
出願日： 1995年05月19日
公開日（公表日）： 1996年11月29日
要約：

【要約】【目的】 検査時間が短く、かつ、ゲート駆動用ICおよびソース駆動用ICが実装されたあとの実際の表示状態において、ゲート配線とソース配線間の短絡箇所を正確に検出することができるアクティブマトリクス型液晶パネルの検査方法を提供する。【構成】 アクティブマトリクス型液晶パネル1の複数のゲート配線10a、10bおよび特定のソース配線7以外の複数のソース配線9a、9bに表示用信号電圧を印加するとともに、前記特定のソース配線に該特定のソース配線に接続される画素列の表示の輝度を変化させる検査用信号電圧を印加し、前記複数のゲート配線のそれぞれに接続される画素列の表示の輝度変化の有無を検出することによりゲート配線およびソース配線間の短絡箇所を検出する。

請求項（抜粋）：

アクティブマトリクス型液晶パネルの複数のゲート配線および特定のソース配線以外の複数のソース配線に表示用信号電圧を印加するとともに、前記特定のソース配線に該特定のソース配線に接続される画素列の表示の輝度を変化させる検査用信号電圧を印加し、前記複数のゲート配線のそれぞれに接続される画素列の表示の輝度変化の有無を検出することによりゲート配線およびソース配線間の短絡箇所を検出する液晶パネルの検査方法。

IPC (2件)：

G01M 11/00 ,  G02F 1/136 500

FI (2件)：

G01M 11/00 T ,  G02F 1/136 500