特許
J-GLOBAL ID：200903031732676170
クリーム半田印刷検査方法及びクリーム半田印刷方法
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-281824
公開番号（公開出願番号）：特開平5-116273
出願日： 1991年10月29日
公開日（公表日）： 1993年05月14日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 短時間に、プリント基板に対するスクリーンの傾きを検出できるクリーム半田印刷検査方法及びこの方法を使用したクリーム半田印刷方法。【構成】 クリーム半田がスクリーン印刷されたプリント基板上を横切る少なくとも2本の測定直線ライン上の表面高さを、連続的に測定し、その高さデータを記憶する高さ測定・記憶工程#1と、各測定直線ラインごとの高さデータから、各測定直線ライン上のランドに印刷されたクリーム半田の高さの極大点の連なりを直線近似して結ぶ極大点直線近似ラインと、クリーム半田印刷が無い部分の高さの極小点の連なりを直線近似して結ぶ極小点直線近似ラインとを演算して求める極大点・極小点直線近似工程#2と、少なくとも2本の測定直線ライン上の極大点直線近似ラインと極小点直線近似ライン間の傾きからプリント基板に対するスクリーン印刷のスクリーンの傾きを検出する傾き検出工程#3とからなる。
請求項（抜粋）：
クリーム半田がスクリーン印刷されたプリント基板上を横切る少なくとも2本の測定直線ライン上の表面高さを、連続的に測定し、その高さデータを記憶する高さ測定・記憶工程と、この高さ測定・記憶工程で記憶された前記各測定直線ラインごとの高さデータから、前記各測定直線ラインごとに、その測定直線ライン上のランドに印刷されたクリーム半田の高さの極大点の連なりを直線近似して結ぶ極大点直線近似ラインと、その測定直線ライン上のクリーム半田印刷が無い部分の高さの極小点の連なりを直線近似して結ぶ極小点直線近似ラインとを演算して求める極大点・極小点直線近似工程と、少なくとも2本の前記測定直線ラインごとに、その測定直線ライン上の極大点直線近似ラインと極小点直線近似ライン間の傾きを、演算して求め、これらの傾きから前記プリント基板に対する前記スクリーン印刷のスクリーンの傾きを検出する傾き検出工程とからなることを特徴とするクリーム半田印刷検査方法。
IPC (2件)：
B41F 15/08 303
, H05K 3/34
