特許
J-GLOBAL ID：200903031754017200
二色性分散計
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松井 伸一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-124749
公開番号（公開出願番号）：特開平6-317518
出願日： 1993年04月30日
公開日（公表日）： 1994年11月15日
要約：
【要約】【目的】 光学素子の不完全さに起因する測定の誤差を軽減し、感度の向上を図ることのできる円二色性分散計を提供すること【構成】 光源1からの出射光をレンズ2で集光して平行光束にした後、偏光解消板3を介して無偏光の光を試料4に照射するようにしている。また試料を通過した光束の進路上に光弾性変調器5,検光子6,レンズ7をその順に配置し、さらにそのレンズの焦点位置に分光器8の入射スリットを配置する。そして分光器の出力側に検出器9を配置し、そこにおいて検出した光成分を信号処理装置10に送るようになっている。そして上記無偏光の光は、同一エネルギーの左回りと右回りの円偏光の合成とみなせ、試料通過中での両円偏光の吸収率の差から透過光は一方の円偏光の成分が強くなる。かかる偏光状態を試料の後段に配置した測定系で検知することにより試料の特性を調べる。
請求項（抜粋）：
略無偏光状態の光を試料に照射する光照射手段と、前記試料からの透過光あるいは反射光の偏光成分の位相遅れを制御する光変調手段と、前記光変調手段で変調された光の直線偏光成分を抽出する手段と、前記直線偏光成分を抽出する手段にて抽出された光を受光する手段と、その受光する手段で受光された光成分に基づいて、前記試料にて吸収された光成分を検出することにより前記試料の特性を計測する信号処理手段とを備えた二色性分散計。
IPC (3件)：
G01N 21/19
, G01J 3/447
, G01J 4/04
