特許

J-GLOBAL ID：200903031760123321

レーザ回折式粒度分布測定方法

発明者： 北村 裕之 ,  東川 喜昭 ,  右近 寿一郎
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-299292
公開番号（公開出願番号）：特開平6-123692
出願日： 1992年10月11日
公開日（公表日）： 1994年05月06日
要約：

【要約】【目的】 測定前の操作が簡単なレーザ回折式粒度分布測定方法を提供すること。【構成】 試料セル10に懸濁液が充満すると同時にレーザ光を照射し、そのとき得られる粒度分布グラフを同一画面上に重ね描きし、この重ね描きされた粒度分布グラフの変化がなくなった時点で測定を開始するようにした。

請求項（抜粋）：

試料セル内に収容されている懸濁液に対してレーザ光を照射し、そのときに得られる回折光パターンに基づいて前記懸濁液における試料の粒度分布を測定するレーザ回折式粒度分布測定方法において、前記試料セルに懸濁液が充満すると同時にレーザ光を照射し、そのとき得られる粒度分布グラフを同一画面上に重ね描きし、この重ね描きされた粒度分布グラフの変化がなくなった時点で測定を開始するようにしたことを特徴とするレーザ回折式粒度分布測定方法。