特許

J-GLOBAL ID：200903031810618939

測定データの後処理方法の選択方法および測定データの後処理要素の選択装置

発明者： アンドリュー ジョン ヒューウェット ,  ヘルムート ケーニッヒ
出願人/特許権者： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-145554
公開番号（公開出願番号）：特開2006-326314
出願日： 2006年05月25日
公開日（公表日）： 2006年12月07日
要約：

【課題】測定データの後処理の改善および簡素化を図り、特に測定データの最適に選択もしくは設計された後処理方法を使用可能にする。【解決手段】本発明は、医療上の測定データを後処理するための少なくとも1つの後処理方法の選択方法および装置に関する。種々の後処理要素が登録される。測定データに加えて、測定データに関連したコンテキストデータが検出および/または導出される。それぞれの測定データのために少なくとも1つの最適に設計された後処理方法を選択可能であるように構造化文書が評価される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

予め定め得るフォーマットで存在する測定データ(MD)を1つ又は複数の後処理要素(K)によって後処理するための少なくとも1つの後処理方法の選択方法において、 各後処理要素(K)について当該後処理要素(K)がどの測定データ(MD)に基づいているかを定めるように後処理要素(K)を登録するステップ、 測定データ(MD)に関連したコンテキストデータを検出および/または導出するステップ、 測定データ(MD)のフォーマットに従って、検出または導出された当該コンテキストデータと関連して測定データ(MD)を構文解析するステップ、 測定データ(MD)のために最適に設計された後処理方法を選択することができるように、登録された後処理要素(K)に依存して、構文解析されたデータを評価するステップ、 測定データ(MD)のために少なくとも1つの最適に設計された後処理方法を選択するステップ を含むことを特徴とする測定データの後処理方法の選択方法。

IPC (2件)：

A61B 5/00 ,  G06Q 50/00

FI (2件)：

A61B5/00 G ,  G06F17/60 126H

Fターム (5件)：

4C117XA07 ,  4C117XB06 ,  4C117XK34 ,  4C117XQ01 ,  4C117XQ02

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 独国特許出願公開第10347433号明細書