特許

J-GLOBAL ID：200903031844221949

缶蓋内面塗膜の欠陥検出方法及び装置

発明者： 高松 正美 ,  米山 恭生
出願人/特許権者： 大和製罐株式会社
代理人 (1件)： 古川 和夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-250631
公開番号（公開出願番号）：特開平6-074930
出願日： 1992年08月26日
公開日（公表日）： 1994年03月18日
要約：

【要約】【目的】 缶蓋塗膜の欠陥とその欠陥位置とを迅速、かつ正確に測定可能とする。【構成】 塗膜面側を内面にして成形した缶蓋1の塗膜面の欠陥を検出するのに、缶蓋外面と接触する接触電極13で缶蓋をその塗膜面を下向きにして保持し、該塗膜面と所定間隔を保つ電極ノズル36から該塗膜面に電解液を噴出して付着させ、該電極ノズルと前記接触電極間に電圧を印加し、缶蓋をその中心軸の周りに自転させながら、電極ノズルを缶蓋の半径方向外方から缶蓋中心に向かい相対移動させ、電解液中に流れる電流値を所定ピッチ毎に検出して缶蓋内面の塗膜欠陥とその位置とを検出する。

請求項（抜粋）：

缶蓋用金属素板の少なくとも片面に保護塗膜が施され、塗膜面側を内面にして成形した缶蓋の塗膜面の欠陥を検出する方法において、缶蓋外面と接触する接触電極で缶蓋をその塗膜面を下向きにして保持し、該塗膜面と所定間隔を保つ電極ノズルから該塗膜面に電解液を噴出して付着させ、該電極ノズルと前記接触電極間に電圧を印加し、缶蓋をその中心軸の周りに自転させながら、前記電極ノズルを缶蓋の半径方向外方から缶蓋中心に向かい相対移動させ、電解液中に流れる電流値を所定ピッチ毎に検出して缶蓋内面の塗膜欠陥を検出することを特徴とする缶蓋内面塗膜の欠陥検出方法。