特許

J-GLOBAL ID：200903031897830122

X線回折試験等における試料保持方法

発明者： 海川 和之 ,  江口 正人
出願人/特許権者： 日本碍子株式会社
代理人 (1件)： 綿貫 達雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-073203
公開番号（公開出願番号）：特開平8-271451
出願日： 1995年03月30日
公開日（公表日）： 1996年10月18日
要約：

【要約】【目的】 平板状試料のX線回折試験、平面度測定試験における測定精度の高い試料の保持方法を提供する。【構成】 平板状試料の中央上部付近の一部を試料ホルダーに保持して、該試料を垂直に垂れ下げ、試料に応力が加わらないようにする。

請求項（抜粋）：

X線回折試験、平面度測定試験の平板状試料の垂直保持方法において、試料の中央上部付近の一部を試料ホルダーに保持して、該試料を垂直に垂れ下げることを特徴とするX線回折試験等における試料保持方法。