三次元位置姿勢計測装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：鈴江武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-225430
公開番号（公開出願番号）：特開平9-072713
出願日： 1995年09月01日
公開日（公表日）： 1997年03月18日
要約：

【要約】【課題】複数本のスリット上の多数の点の三次元位置を計算することなしに、特徴点の三次元位置と平面部の法線ベクトルを算出する。【解決手段】三次元物体の平面部に対し、縦スリット投光器2で縦スリット光を照射すると共に、横スリット投光器3で横スリット光を照射する。画像カメラ1は、三次元物体の平面部の画像を撮像する。特徴点計測部4は、上記画像上の平面部に存在する明るさの異なる領域の特徴点の二次元座標(画像座標系)を計測する。縦スリット計測部5は、上記画像上での縦スリット光の二次元直線方程式を計測し、横スリット計測部6は、上記画像上での横スリット光の二次元直線方程式を計測する。三次元位置姿勢演算部7は、上記特徴点の画像上での位置と、特徴点を含む平面部に投射された縦スリット及び横スリットの画像上での直線方程式から、特徴点の三次元位置及び平面部の法線ベクトルを算出する。

請求項（抜粋）：

任意の方向を向いた平面部を有する三次元物体に対し、その平面部の画像を入力するように配置された画像カメラと、上記平面部に対しスリット光を照射し、それが画像上において縦方向に写るように配置された縦スリット投光器と、上記平面部に対しスリット光を照射し、それか画像上において横方向に写るように配置された横スリット投光器と、上記平面部に存在する明るさの異なる領域の位置(特徴点)の画像上での二次元座標(画像座標系)を計測する手段と、上記画像上での縦スリット光の二次元直線方程式(画像座標系)を計測する手段と、上記画像上での横スリット光の二次元直線方程式(画像座標系)を計測する手段と、上記特徴点の画像上での位置(画像座標系)と、特徴点を含む平面部に投射された縦スリット及び横スリットの画像上での直線方程式(画像座標系)から、特徴点の三次元位置及び平面部の法線ベクトルを算出する演算部と、を具備したことを特徴とする三次元位置姿勢計測装置。

IPC (3件)：

G01B 11/00 , G01B 11/24 , G06T 7/00

FI (3件)：

G01B 11/00 H , G01B 11/24 C , G06F 15/62 415

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