特許
J-GLOBAL ID：200903031952599346
コーンビームX線断層撮影装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
秋田 収喜
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-193086
公開番号（公開出願番号）：特開平10-033520
出願日： 1996年07月23日
公開日（公表日）： 1998年02月10日
要約：
【要約】【課題】 被検体の厚さがゼロの部分を視野に含む場合に、実測されたX線透過像の散乱X線による画質の低下を簡便に補正し、3次元再構成により得られた画像の画質とCT値の定量性を向上できるコーンビームCT装置を提供すること。【解決手段】 被検体の2次元X線像を撮像し、3次元X線CT像を再構成する再構成手段とを有するコーンビームX線断層撮影装置において、所定のX線吸収体の厚さと該厚さに対する散乱X線成分の割合との関係を予め計測する計測手段と、2次元X線像と撮像条件とからX線吸収体の厚さを算出する吸収体厚さ算出手段と、該吸収体厚さと予め設定される吸収体厚さとを比較し、被検体の吸収体厚さが薄い場合には、予め設定される吸収体厚さに対応する散乱X線成分の割合を2次元X線像の散乱X線成分の割合とする比較置換手段と、散乱X線成分の割合に基づいて、散乱X線を補正する散乱X線補正手段とを具備する。
請求項（抜粋）：
円錐状もしくは角錐状のX線を照射するX線源と、被検体の2次元X線像を撮像する2次元X線像撮像手段と、該2次元X線像撮像手段が撮像した2次元X線像から3次元X線CT像を再構成する再構成手段とを有するコーンビームX線断層撮影装置において、所定のX線吸収体の厚さと該厚さに対する散乱X線成分の割合との関係を予め計測する計測手段と、前記2次元X線像と撮像条件とから前記被検体のX線吸収量と前記X線吸収体のX線吸収量とが等しくなるときの前記X線吸収体の厚さを算出する吸収体厚さ算出手段と、該吸収体厚さ算出手段が算出した吸収体厚さと予め設定される吸収体厚さとを比較し、該比較の結果、前記被検体の吸収体厚さが前記予め設定される吸収体厚さよりも薄い場合には、前記予め設定される吸収体厚さに対応する散乱X線成分の割合を前記2次元X線像撮像手段が撮像した2次元X線像の散乱X線成分の割合とする比較置換手段と、前記散乱X線成分の割合に基づいて、前記2次元X線像の散乱X線を補正する散乱X線補正手段とを具備することを特徴とするコーンビームX線断層撮影装置。
IPC (2件)：
A61B 6/03 320
, A61B 6/03 350
A61B 6/03 320 B
, A61B 6/03 350 K
