特許

J-GLOBAL ID：200903032060271598

故障診断装置及び故障診断方法

発明者： 安川 薫 ,  足立 康二 ,  山田 紀一 ,  上床 弘毅 ,  中川 英悟 ,  里永 哲一
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (1件)： 片山 修平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-323330
公開番号（公開出願番号）：特開2007-133472
出願日： 2005年11月08日
公開日（公表日）： 2007年05月31日
要約：

【課題】 汎用性の高い故障診断モデルを用いた故障診断装置を提供する。【解決手段】 画像形成装置100の備える機能ごとに、確率推論モデルを用いて機能分化された機能分化診断モデルを作成し、機能分化診断モデルを合成した故障診断モデルを記憶する機能診断モデル記憶部11と、診断対象の画像形成装置にはない機能について、機能分化診断モデルの代わりにダミーノードを接続した故障診断モデルを作成するダミーノード接続部12と、ダミーノードを接続した故障診断モデルを用いて画像形成装置の故障箇所を推定する解析処理部13とを有している。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

画像形成装置の備える機能ごとに、確率推論モデルを用いて機能分化された機能分化診断モデルを作成し、該機能分化診断モデルを合成した故障診断モデルを記憶する記憶手段と、 診断対象の画像形成装置にはない機能について、機能分化診断モデルの代わりにダミーノードを接続した故障診断モデルを作成し、前記画像形成装置の故障箇所を推定する故障箇所推定手段と、 を有することを特徴とする故障診断装置。

IPC (2件)：

G06F 3/12 ,  G03G 21/00

FI (2件)：

G06F3/12 K ,  G03G21/00 510

Fターム (7件)：

2H027HA01 ,  2H027HA06 ,  2H027ZA07 ,  5B021AA01 ,  5B021EE02 ,  5B021NN16 ,  5B021NN17

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 画像形成装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-297681   出願人：三田工業株式会社