特許

J-GLOBAL ID：200903032063124421

円中心位置測定方法

発明者： 横山 晴彦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-015228
公開番号（公開出願番号）：特開平7-225843
出願日： 1994年02月09日
公開日（公表日）： 1995年08月22日
要約：

【要約】【目的】 円周上にゴミや欠けがある場合にもこれらの影響を取り除き、高精度で円中心位置を求める。【構成】 二次元の画像データからエッジ点を検出する工程と、エッジ点の集合について平均四乗誤差最小化法によって円弧近似を行い円中心の位置を推定する工程と、推定された円の円周から離れた点を除いたエッジ点集合についての平均四乗最小化法によって再度円弧近似を行い円中心の位置を推定する工程から成る。

請求項（抜粋）：

二次元の画像データからエッジ点を検出する工程と、エッジ点の集合について最小二乗法によって円弧近似を行い円中心の位置を推定する工程と、推定された円の円周から離れた点を除いたエッジ点集合について再度円弧近似を行い円中心の位置を推定する工程から成ることを特徴とする円中心位置測定方法。

IPC (4件)：

G06T 7/60 ,  G01B 11/00 ,  G06F 17/17 ,  G06T 7/00

FI (3件)：

G06F 15/70 360 ,  G06F 15/353 ,  G06F 15/70 330 M