特許

J-GLOBAL ID：200903032115573904

半導体装置

発明者： 丸山 勝之
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 曾我 道照 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-165691
公開番号（公開出願番号）：特開平7-022511
出願日： 1993年07月05日
公開日（公表日）： 1995年01月24日
要約：

【要約】【目的】 半導体装置内部に供給するクロックのクロックスキューを低減する。【構成】 外部からクロック信号を受け、入力端11から出力端までの長さが同一である配線により、クロックを複数に分配するプリクロックセル1と、半導体装置内部の回路にクロックを供給する複数のメインクロックセル2と、プリクロックセル1からメインクロックセル2にクロックを供給する同一の配線長の配線3とからなるクロック分配回路を備えた半導体装置であり、クロック分配回路における各配線の長さを等しくすることにより、分配されたクロック間の時間的ずれを少なくする。

請求項（抜粋）：

内部回路に時間基準信号を供給する時間基準信号分配回路を備える半導体装置において、上記時間基準信号分配回路を、上記半導体装置の外部から上記時間基準信号を受け、入力端から出力端までの長さが略同一である配線により複数の出力に分配する前置分配回路と、上記前置分配回路の出力を受け、上記内部回路に上記時間基準信号を供給する複数の供給回路と、それぞれが略同一の長さをもち、上記前置分配回路の出力を複数の上記供給回路に伝送する複数の配線とから構成したことを特徴とする半導体装置。

IPC (6件)：

H01L 21/82 ,  G06F 1/10 ,  G11C 11/407 ,  H01L 21/3205 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (5件)：

H01L 21/82 W ,  G06F 1/04 330 A ,  G11C 11/34 354 C ,  H01L 21/88 A ,  H01L 27/04 D