画像処理装置および画像処理方法

発明者： ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：森下賢樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-064572
公開番号（公開出願番号）：特開2005-251122
出願日： 2004年03月08日
公開日（公表日）： 2005年09月15日
要約：

【課題】等輝度線ステレオ法は、対象物体までの距離が長いほど、測距精度が悪くなりやすい。【解決手段】画像取得部204は、まず、物体を異なる角度から撮像した基準画像と比較画像を取得する。等輝度線抽出部212は、比較画像から等輝度線を抽出する。エピポーラ線抽出部214は、基準画像における所定の基準画素に対応して、比較画像からエピポーラ線を抽出する。対応画素特定部222は、基準画素における輝度値に対応する等輝度線とエピポーラ線との交点にもとづいて、比較画像から基準画素に対応する対応画素を特定する。対応点特定部224は、対応画素における輝度値にもとづいて、基準画素の輝度値と略同等の輝度値を有する対応点の座標を特定する。測距部208は、基準画素の座標と対応点の座標に基づいて、物体までの距離を測定する。【選択図】図6

請求項（抜粋）：

物体を異なる角度から撮像した基準画像と比較画像とを取得する画像取得部と、前記比較画像から輝度に応じて分類された領域の境界線を等輝度線として抽出する等輝度線抽出部と、前記基準画像における所定の基準画素に対応して、前記比較画像からエピポーラ線を抽出するエピポーラ線抽出部と、前記基準画素における輝度値に対応する等輝度線と前記エピポーラ線との交点にもとづいて、前記比較画像から前記基準画素に対応する対応画素を特定する対応画素特定部と、前記対応画素における輝度値にもとづいて、前記基準画素の輝度値と略同等の輝度値を有する対応点の座標を特定する対応点特定部と、前記基準画素の座標と前記対応点の座標に基づいて、前記物体までの距離を測定する測距部と、を備えることを特徴とする画像処理装置。

IPC (2件)：

G06T1/00 , G01B11/00

FI (2件)：

G06T1/00 315 , G01B11/00 H

Fターム (21件)：

2F065AA06 , 2F065BB05 , 2F065DD00 , 2F065FF01 , 2F065FF05 , 2F065FF09 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ08 , 2F065JJ26 , 2F065QQ03 , 2F065QQ25 , 2F065QQ28 , 2F065RR07 , 2F065UU05 , 5B057CA13 , 5B057CD14 , 5B057DA17 , 5B057DB03 , 5B057DC22 , 5B057DC32

引用特許：

出願人引用 (1件)

画像処理方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-191478 出願人：工業技術院長, スタンレー電気株式会社

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