特許
J-GLOBAL ID：200903032134919790
物体の表面状態検出装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
板谷 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-344919
公開番号（公開出願番号）：特開平9-161121
出願日： 1995年12月05日
公開日（公表日）： 1997年06月20日
要約：
【要約】【課題】 物体の表面状態検出装置において、被検出物体の表面の光学特性が非対称で方向性を持つような場合においても、確実に当該物体の表面状態を検出することができ、また、被検出物体表面の光学活性軸の方向を検出することができるようにした。【解決手段】 被検出物体3の表面による反射光又は透過光を偏光成分毎に受光する受光手段からなるセンサを少なくとも2組(7a,8a,7b,8b)備え、これらのセンサを互いに所定の角度をもって配置し、各受光手段による偏光成分毎の受光信号に基いて被検出物体3の表面状態を判断する。
請求項（抜粋）：
被検出物体による反射光又は透過光の偏光成分変化を検出することにより当該物体の表面状態を検出する物体の表面状態検出装置において、投光手段と、この投光手段による投光の物体表面による反射光、又は、物体を透過した光を偏光成分毎に受光する受光手段とからなるセンサを少なくとも2組備え、これらのセンサを互いに所定の角度をもって配置し、各受光手段による偏光成分毎の受光信号に基いて被検出物体の表面状態を判断することを特徴とする物体の表面状態検出装置。
FI (2件)：
G07D 7/00 E
, G07D 7/00 D
