特許
J-GLOBAL ID:200903032199103940

測量装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴木 晴敏
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-307348
公開番号(公開出願番号):特開平7-139942
出願日: 1993年11月12日
公開日(公表日): 1995年06月02日
要約:
【要約】【目的】 測点の比高及び距離を同時に計測可能な簡便且つ安価な測量装置を提供する。【構成】 測量装置は測点Pに配置される標識具1と、基準点に配置される測定器2との組み合わせからなる。標識具1は既知間隔で多数配列した輝状の実マーク11を有している。測定器2はレンズ21とCCDイメージセンサ22とコンピュータ26を備えている。レンズ21は視野に含まれる輝状の実マーク11からの放射光を集めて収束光を形成する。CCDイメージセンサ22は収束光を受光して輝状の実マーク11に応じた輝度画像を生成する。コンピュータ26は輝度画像を処理して撮像された像マークを抽出し、実マーク配列と像マーク配列との相対的な関係から測点Pに関する測量情報を算出する。この測量情報には比高と距離が含まれる。
請求項(抜粋):
測点に配置される標識具と、基準点に配置される測定器との組み合わせからなる測量装置であって、前記標識具は、既知間隔で多数配列した輝状の実マークを有しており、前記測定器は、視野に含まれる輝状の実マークからの放射光を集めて収束光を形成するレンズ手段と、該収束光を受光して該輝状の実マークに応じた輝度画像を生成する撮像手段と、該輝度画像を処理して撮像された像マークを抽出し、実マーク配列と像マーク配列との相対的な関係から該測点に関する測量情報を算出する処理演算手段とを有する事を特徴とする測量装置。
IPC (2件):
G01C 5/00 ,  G01C 15/06
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開平4-147011
  • 特開昭63-222213
  • 特開平4-147011
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