特許

J-GLOBAL ID：200903032209537170

偏光板検査装置およびその検査方法

発明者： 神丸 道治
出願人/特許権者： ソニー株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-167520
公開番号（公開出願番号）：特開平10-010322
出願日： 1996年06月27日
公開日（公表日）： 1998年01月16日
要約：

【要約】【課題】 一枚づつ目視にて検査する効率の悪さや、検査時間が被検査偏光板の大きさに影響されることによる非効率を改善し、生産効率の向上を図った液晶表示装置の偏光板検査装置およびその検査方法を提供する。【解決手段】 本発明の偏光板検査装置10は、光を出射する光源11、光学フィルタ12、基準となる無欠陥偏光板13、被検査偏光板14を設置する被検査偏光板設置部15、投射レンズ16および検査像を映写するスクリーン17などにより構成される。そして、光源11から出射した光を、無欠陥偏光板13および被検査偏光板14に投射し、投射レンズ16によって被検査偏光板14の全体像をスクリーン17に映出するようにした。これにより、塵埃や瑕等の欠陥箇所の大きさや程度がよく識別できるようになり、検査の判断が容易になる。

請求項（抜粋）：

光を出射する光源と、光の光学処理を行う光学手段と、基準となる無欠陥偏光手段と、被検査偏光板を設置する被検査偏光板設置手段と、光源から出射され、光学手段、無欠陥偏光手段および被検査偏光板を透過した検査像を拡大して投射する投射手段と、該検査像を映写する映写手段とを具備することを特徴とする偏光板検査装置。

IPC (3件)：

G02B 5/30 ,  G01M 11/00 ,  G01N 21/88

FI (3件)：

G02B 5/30 ,  G01M 11/00 T ,  G01N 21/88 D